一、詳細概述

   東莞電(dian)腦氏顯微(wei)維氏硬度計、顯微硬(ying)度(du)計采用大顯示(shi)屏(ping)LCD顯(xian)示(shi)，界面操作采用菜單式結構，可在操作面板上選擇硬(ying)度標尺HV或HK，通過數(shu)碼測(ce)量(liang)壓痕，自動輸入(ru)，自動顯示(shi)硬度值。并可(ke)進行各(ge)種硬度值相互(hu)轉換，測(ce)試(shi)結果可(ke)自動儲(chu)存、處理(li)、打印(yin)。備有RS-232接口(kou)，可(ke)與計算(suan)機聯機。本東(dong)莞電(dian)腦氏顯微維(wei)氏硬度計數字化、自(zi)動(dong)化程度較高。

二、結構特點：

無摩擦主軸結構，試驗精度(du)高(gao)；
高精(jing)度(du)光學測(ce)量系統(tong)，精(jing)密坐標試臺；
試驗(yan)過程自(zi)動(dong)化，操作簡單，無人為(wei)操作誤差；
可選配(pei)CCD攝像裝(zhuang)置及圖像處理系統；
可選配努(nu)氏壓頭進行努(nu)氏硬度試(shi)驗；
精度符合(he)GB/T4340.2 ISO6507-2 和(he)美國ASTM E384。

三、應用范圍
滲氮層、陶瓷、鋼、有色(se)金屬(shu)
薄(bo)板、金屬薄(bo)片、電鍍層、微(wei)小試件
材料強度(du)(du)、熱處理、碳化(hua)層(ceng)、脫碳層(ceng)和(he)淬火硬(ying)化(hua)層(ceng)的(de)深度(du)(du)
適用于平行平面和微小零件及超(chao)薄零件的精密維氏測量。

四、技術數據：

測量范圍(wei)：5-1000HV

試驗(yan)力 10g (0.098N）、25g (0.245N)、50g (0.49N)、100g (0.98N )、

200g (1.96N)、300g (2.94N)、500g (4.9N)、1000g (9.8N)

轉換標尺(chi) 洛氏、表面洛氏、布氏

*小測量(liang)單位 0.031μm

總放大(da)倍(bei)數 100X（觀察）400X（測量)

數(shu)據輸出(chu) 內置打印機和RS-232接口

加(jia)荷(he)(he)控制 自(zi)動(dong)（加(jia)荷(he)(he)、保荷(he)(he)、卸(xie)荷(he)(he)

試(shi)件*大(da)高度 65mm

儀器尺寸 405×290×480mm （長×寬×高(gao)）

儀器重量 25kg

電源 AC220V±5%，50~60Hz

執行標(biao)準 GB/T4340.2國家標準(zhun), JJG151檢(jian)定規程

五、主要附件
座標試臺：1個                  平口鉗：  1個                        
薄板試臺：1個                  大V形塊(kuai)：1個
細軸試臺：1個                  小V形塊：1個
金(jin)剛石角錐壓(ya)頭：1只(zhi)          標準顯微硬度塊：2塊(kuai)