恒溫恒濕測(ce)試機，高(gao)低溫濕熱試驗箱(xiang)適用標準(zhun)(zhun)行業標準(zhun)(zhun)，以下(xia)是恒溫恒濕測(ce)試機高(gao)低溫試驗箱(xiang)符合的標準(zhun)(zhun)介紹

 GB/T 2423.1-2001 電工(gong)電子產品環境試驗

第(di)1部分：試驗方(fang)法試驗A：低溫：簡(jian)介：本標準所涉及的(de)低溫試驗(yan)(yan)適用于非散(san)熱(re)和散(san)熱(re)兩(liang)類試驗(yan)(yan)樣品。對于非散(san)熱(re)試驗(yan)(yan)樣品，試驗(yan)(yan)Aa和Ab不違背早期發行(xing)的標準(zhun)。本標準(zhun)**于用來考核或(huo)確定電工(gong)、電子產(chan)品(pin)（包括件、設備及其他(ta)產(chan)品(pin)）在低溫(wen)環境(jing)條件下貯(zhu)存和（或(huo)）使(shi)用的適應性。這(zhe)一低溫(wen)試驗不能用來評價試驗樣品(pin)對溫(wen)度(du)變(bian)化的耐(nai)抗性和在溫(wen)度(du)變(bian)化期間的工(gong)作能力，在這(zhe)種情況下，應當采用試驗N:溫(wen)度變化試(shi)驗(yan)方法。低(di)溫(wen)試(shi)驗(yan)方法分為(wei)以(yi)下三類:非散熱試驗樣品低溫試驗:——試(shi)驗Aa:溫度突變——試(shi)驗Ab:溫度(du)漸變散熱試驗樣品低溫試驗:——試驗Ad:溫(wen)(wen)(wen)度(du)漸變本(ben)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)方法通常(chang)用于條(tiao)件(jian)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)期(qi)間(jian)(jian)(jian)能達(da)(da)到(dao)(dao)溫(wen)(wen)(wen)度(du)穩(wen)定(ding)的試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)樣品(pin)。試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)持(chi)續時(shi)(shi)間(jian)(jian)(jian)是從試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)樣品(pin)溫(wen)(wen)(wen)度(du)達(da)(da)到(dao)(dao)穩(wen)定(ding)時(shi)(shi)開始(shi)計(ji)算的。在特殊(shu)情況(kuang)下，如果條(tiao)件(jian)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)期(qi)間(jian)(jian)(jian)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)樣品(pin)達(da)(da)不到(dao)(dao)溫(wen)(wen)(wen)度(du)穩(wen)定(ding)，則(ze)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)持(chi)續時(shi)(shi)間(jian)(jian)(jian)從試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)箱（室(shi)）達(da)(da)到(dao)(dao)規(gui)定(ding)試(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)(yan)(yan)溫(wen)(wen)(wen)度(du)時(shi)(shi)開始(shi)計(ji)算。相關規(gui)范應規(gui)定(ding):a）試驗箱(xiang)（室(shi)）內溫度變(bian)化速率(lv);b）試驗(yan)樣品(pin)放(fang)入試驗(yan)箱(xiang)（室）的時間;c）試驗樣品在試驗條(tiao)件下暴露試驗開始的(de)時間;d）試(shi)驗樣品通電或加負(fu)載(zai)的時間。在(zai)這些條件下，相關規范(fan)的制定者(zhe)可根據GB/T2424.1-1989導則(ze)選定以上4個參數（以上條件下的(de)修訂正在(zai)考慮之中）。

GB/T 2423.2-2001 電(dian)(dian)工電(dian)(dian)子產品環境試(shi)驗(yan)

第2部分：試驗方法 試驗B：高溫：簡介(jie)：本標準敘述(shu)的高溫試(shi)(shi)驗(yan)(yan)適(shi)用于散(san)熱(re)和(he)非(fei)散(san)熱(re)兩類試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)品(pin)。對于非(fei)散(san)熱(re)試(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)品(pin)，試(shi)(shi)驗(yan)(yan)Ba和Bb基(ji)本(ben)上不(bu)違背早期(qi)發行的(de)(de)標準。本(ben)高(gao)溫試驗的(de)(de)目的(de)(de)**于確(que)定件、設備(bei)或(huo)其他(ta)產品在(zai)高(gao)溫環境條(tiao)件下使用或(huo)貯存的(de)(de)適應性。本(ben)高(gao)溫試驗不(bu)能(neng)(neng)用來評價試驗樣品的(de)(de)耐溫度變化性和在(zai)溫度變化期(qi)間的(de)(de)工作能(neng)(neng)力(li)。在(zai)這種情況下。應當采用試驗N:溫度(du)變化(hua)試驗(yan)(yan)方(fang)法。高溫試驗(yan)(yan)方(fang)法分為:非散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Ba:溫(wen)度突變;試驗Bb，溫度漸變(bian)。散(san)熱試(shi)驗樣品高溫試(shi)驗:試(shi)驗(yan)Bc:溫度突變;試驗Bd:溫(wen)度(du)漸變。本(ben)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)方(fang)法通常用于條件試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)期間(jian)(jian)能(neng)達到(dao)溫(wen)度(du)穩定(ding)(ding)的試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)品(pin)。試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)持續時(shi)間(jian)(jian)是(shi)從試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)品(pin)溫(wen)度(du)達到(dao)穩定(ding)(ding)時(shi)開(kai)始計(ji)算。在特殊情況下，如(ru)果條件試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)期間(jian)(jian)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)樣(yang)品(pin)達不(bu)到(dao)溫(wen)度(du)穩定(ding)(ding)。則(ze)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)持續時(shi)間(jian)(jian)從試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱（室(shi)）達到(dao)規定(ding)(ding)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)溫(wen)度(du)時(shi)開(kai)始計(ji)算。相關規范應規定(ding)(ding):a）試驗箱（室）內溫度變化速率;b）試驗(yan)樣品(pin)放(fang)人試驗(yan)箱（室(shi)）的時間;c）試驗樣品在試驗條件下暴露開(kai)始的(de)時間;d）試(shi)驗樣品(pin)通電(dian)或加(jia)負載的(de)時間。對于這些情況，相關規(gui)范的(de)制定者(zhe)可(ke)根據(ju)GB/T2424.1-1989導則選定(ding)以上(shang)4個參(can)數（包含以上這些(xie)情(qing)況的修正件在考慮之(zhi)中(zhong)）。

GB/T 2423.3-1993 電(dian)工電(dian)子產(chan)品基本環境試驗(yan)規程試驗(yan)

Ca:恒(heng)定濕熱試驗方法（已作廢(fei)，被GB2423.3-2006替(ti)代） GB/T 2423.3-2006 電(dian)工電(dian)子產品(pin)環(huan)境試驗第2部分:試驗(yan)方(fang)法 試驗Cab:恒定濕熱方法：簡介：本(ben)標(biao)準(zhun)等(deng)同采用IEC60068-2-78：2001，規定了電工電子產(chan)品(pin)恒定濕(shi)(shi)熱(re)試驗的嚴酷等(deng)級，適用(yong)于(yu)散(san)熱(re)和(he)(he)非散(san)熱(re)樣(yang)品(pin)。本(ben)標準(zhun)適用(yong)于(yu)確定電工電子產(chan)品(pin)、元件或設備在高濕(shi)(shi)度(du)的條件下使用(yong)、儲存(cun)和(he)(he)運(yun)輸時的適應性。

GB/T 2423.4-1993 電工(gong)電子產品基本環境試驗規程試驗

Db:交變濕(shi)(shi)熱試驗(yan)方(fang)法(fa)：簡介：本(ben)標準規定了交變濕(shi)(shi)熱試驗(yan)的試驗(yan)程序、嚴酷等(deng)級和對試驗(yan)箱（室(shi)）的基本(ben)要求等(deng)。本(ben)標準適用(yong)于確(que)定電工(gong)電子產品或材料在溫度循環變化、產品表面產生凝露(lu)的濕(shi)(shi)熱條件下使用(yong)和貯存的適應性。